，由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境方面的原因，有些真空開關(guān)在運(yùn)行過(guò)程中其真空滅弧室會(huì)有不同程度的泄漏，有的在正常壽命范圍內(nèi)就可能泄漏到無(wú)法正常開斷的地步。在這種情況下進(jìn)行開斷就會(huì)出現(xiàn)不能正常開斷的現(xiàn)象而造成嚴(yán)重的后果。國(guó)內(nèi)真空開關(guān)事故大多是由此原因引起。所以加強(qiáng)定期或不定期檢測(cè)真空開關(guān)真空度成了十分重要的環(huán)節(jié)。

傳統(tǒng)的檢測(cè)方法是“耐壓法”，即真空開關(guān)處于開斷狀態(tài)下

，在動(dòng)靜觸頭之間施加一定的電壓，檢測(cè)其泄漏電流的大小，由此推斷真空管的好壞。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：操作簡(jiǎn)單；缺點(diǎn)是：只能定性地檢測(cè)真空管的好壞；而且真空度在10-5～10-1Pa之間無(wú)法準(zhǔn)確分辨，所以無(wú)法判斷泄漏的發(fā)展趨勢(shì)（即同一個(gè)真空開關(guān)和上次相比有多大程度的泄漏）。

華中科技大學(xué)從九十年代初開始研究真空開關(guān)滅弧室真空度現(xiàn)場(chǎng)的定量檢測(cè)，經(jīng)過(guò)近十年的努力

，于一九九九年獲得專利，并實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場(chǎng)不拆卸定量測(cè)量。有了定量測(cè)量的手段，不僅可以測(cè)量真空開關(guān)真空度是否在正常范圍內(nèi)，同時(shí)更重要的是，對(duì)某些泄漏速度較快的真空開關(guān)，通過(guò)歷年測(cè)量結(jié)果相比較，可以大致推斷它的壽命，真正起到預(yù)防意外事故發(fā)生的目的。

本公司推出的HDZK-Ⅳ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀是在ZKD型的基礎(chǔ)上升級(jí)換代產(chǎn)品

。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，機(jī)型輕便小巧，測(cè)試時(shí)間更短，測(cè)量可靠性、穩(wěn)定性、精度更高，功能更加完善。